11月28日，天意主板测试专家评审会在suncitygroup太阳新城召开，会议由suncitygroup太阳新城路良刚院长主持，此次项目评审会的专家成员包括由信息学院院长苏秉华院长、程加斌教授、suncitygroup太阳新城路良刚院长、吴方副教授和王震博士，东莞天意电子有限公司代表有叶伦寿工程师、许文清工程师和邹小昱工程师等人。
天意电子有限公司代表人叶伦寿工程师做了项目简介和各阶段的进程汇报，接着许文清工程师做了详细的主板测试报告。主板测试报告内容包括测试方式、测试项目以及测试存在的问题。其中主板的测试方式综合到各方面考验的可能性，含有主板的高低温环境测试，是否抗受得起高空摔落及震动等全方面性能的测试，测试效果显示4300U主板的可靠性、稳定性都符合客户端的规格标准，乃至更优。
在会议的提问环节，苏秉华教授、吴方副教授、程加斌、路良刚分别就测试方法、测试参照基准、测试环境和网络可靠性等方面进行了提问，天意公司代表都一一作答。
此次的主板测试评审会的成功举行，标志suncitygroup太阳新城与东莞天意公司今年签定的" 主板检测技术的开发"项目已顺利结题,同时也标志suncitygroup太阳新城在与企业的产学研合作中在对合作企业的项目研发过程中成功进行技术指导和质量监督。
（编辑/易雯静 审核/路良刚）
没有附件:
